检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]泰克科技
出 处:《中国电子商情》2018年第9期43-47,共5页China Electronic Market
摘 要:在用户进行系统或者芯片测试的时候,一般主要验证几个方面的性能和可靠性,包括系统发送端的信号质量,链路的损耗/串扰,接收端的容限。如图1,一个链路系统的基本架构。通常在发送端会使用FFE来补偿链路的损耗,接收端会采用DFE/FFE等方法来进行均衡,一些比较高速率的标准如PCIE 4.0/5.0,SAS4等还会采用FEC来进行纠错,当然接收端还需要CDR从串行信号里进行时钟恢复得到同步时钟完成对信号的采样。
关 键 词:误码检测 自适应 Bertscope 接收端 误码仪 FEC 容限测试 被测设备 抖动分析
分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.170