数字芯片中时钟产生模块的设计与验证  

作　　者：杨斌 史亚维[2] 

机构地区：[1]西安紫光国芯半导体有限公司 [2]咸阳职业技术学院

出　　处：《电子世界》2018年第18期153-153,共1页Electronics World

摘　　要：随着今年美国对中兴芯片禁止事件的发展,国人对芯片越来越重视,然而时钟产生模块（ClockGenerationUnit,CGU）是数字芯片不可缺少的-部分.因此,本文给出了数字芯片中时钟产生模块的基本设计结构,提出了基于C语言的直接功能验证和基于UVM方法学的随机功能验证结合的有效方法,达到了功能覆盖率和代码覆盖率的要求,使得设计更符合功能要求.

关 键 词：数字芯片 功能验证 时钟产生 设计结构 模块 代码覆盖率 方法学 C语言 

分 类 号：TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]