2018 IEEE EMC ＆ APEMC国际学术研讨会——最佳文章（三）  

2018 IEEE ＆ Asia-Pacific International Symposium on EMC--Best Paper Awards Part 3

出　　处：《安全与电磁兼容》2018年第5期91-93,共3页Safety & EMC

摘　　要：碳化硅半导体器件的终端电容不只是影响其在开关过程中的动态特性,而且影响功率转换电路的EMC性能。作者介绍了一种提取半导体器件终端电容值的电感耦合方法。该方法可以运用到正在运行的被测器件上,电容值的提取可以在没有直接电接触时进行。

关 键 词：结电容测量 碳化硅 双电流探头 双端口ABCD网络 

分 类 号：TN925.93[电子电信—通信与信息系统]