利用光学双稳态测量微弱物理量  

作　　者：杨齐民[1] 熊秉衡[1] 张文碧[1] 王崇真[1] 冯薇[1] 

机构地区：[1]云南工学院激光所,昆明650041

出　　处：《量子电子学报》1992年第1期51-52,共2页Chinese Journal of Quantum Electronics

摘　　要：通常我们利用迈克尔逊干涉仪,来测量微弱物理量的变化。由下式可知 I_t=βI_i(1+αcosφ) (1)两个I_t的最大值之间的相位差为π。I_t最大值和邻近最小值之间的相位差为(1/2)π。如果用它测量位移,那么动镜移动(1/8)λ时,就对应(1/2)π的相位变化。在没有特殊装置的情况下,这也就是一般迈克尔逊干涉仪测量微弱物理量变化的灵敏度。

关 键 词：光学双稳态 物理量变化 迈克尔逊 迈氏干涉仪 干涉仪测量 最大值 相位变化 高度稳定 光电负反馈 激光 

分 类 号：TN201-55[电子电信—物理电子学]