美国QualMark加速可靠性试验中心HALT／HASS研究报告  

作　　者：林震[1] 沈朝晖[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院电子工程研究所，四川绵阳621900

出　　处：《电子技术参考》2002年第2期51-58,共8页

关 键 词：美国QualMark加速可靠性试验中心 HALT HASS 研究报告 高加速寿命试验 高加速应力筛选 加速可靠性 

分 类 号：TN06[电子电信—物理电子学]