可控硅的直观测试法  

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作  者:王晨明[1] 

机构地区:[1]郴州医专,湖南郴州423000

出  处:《医疗装备》2002年第9期21-22,共2页Medical Equipment

关 键 词:可控硅 直观测试法 强电控制 

分 类 号:TN34[电子电信—物理电子学]

 

参考文献:

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二级参考文献:

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引证文献:

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