基于扫描激光器的光器件分析仪  

作　　者：B.P.Singh Y.Hotta A.Kitamura H.Fujino K.Takeuchi 

机构地区：[1]圣德科光学设备研究所,圣德科光子研究所

出　　处：《通讯世界》2002年第9期54-54,共1页Telecom World

关 键 词：OCA 麦克尔逊干涉 电路控制 扫描激光器 光器件分析仪 

分 类 号：TH744[机械工程—光学工程] TP216.3[机械工程—仪器科学与技术]