塞曼效应与边缘离子温度的光谱测量  

ZEEMAN EFFECT AND SPECTROSCOPIC MEASUREMENTS OF THE ION TEMPERATURE IN EDGE PLASMA

作　　者：孙平[1] 潘传红[1] 董贾福[1] 王全明[1] 

机构地区：[1]核工业西南物理研究院,成都610041

出　　处：《核聚变与等离子体物理》2002年第3期163-167,共5页Nuclear Fusion and Plasma Physics

摘　　要：通过理论推导得到了谱线实际宽度和塞曼展宽之间的关系 ,在磁感应强度分别为 1、2、2 5和 3T的情况下 ,用数值方法进行了求解 ,用得到的结果拟合出了校正因子随离子温度变化的经验公式和拟合曲线。结果表明 :离子温度较低时 ,塞曼效应对谱线宽度的影响很大 ;温度较高时 。The relation between spectral line width and the Zeeman broadening has been derived,and numerical results have been obtained when the magnetic field is 1,2,2.5 and 3T,respectively.Correction factor curves have been fitted from the results.When the ion temperature is low and the magnetic field is high,the Zeeman effect has more influence on the width of spectral lines,whereas the Zeeman effect can be neglected.

关 键 词：塞曼效应 边缘离子温度 光谱测量 校正因子 等离子体诊断 

分 类 号：TL651[核科学技术—核技术及应用] O536[理学—等离子体物理]