电容型试品介质损耗因数变化的原因与分析  

Reason and Its Analysis of Changing Dielectric Dissipation Factor of Capacitive Testee

作　　者：戴昌彬 洪贞贤 

机构地区：[1]珠海电力局,广东珠海519001 [2]顺德电力局,广东顺德528300

出　　处：《变压器》2002年第9期38-41,共4页Transformer

摘　　要：通过对电容型试品的绝缘介质损耗因数在不同的试验条件下变化原因的分析,总结出判断其绝缘缺陷的方法。Through analyzing the reasons of changing dielectric dissipation factor of a capacitive testee un der dif ferent con di tions,the detecting method of insulation faults is summarized.

关 键 词：LB1-110型 电流互感器 电容型试品 介质损耗因数 试验 

分 类 号：TM53[电气工程—电器]