基于MSP430的智能测试仪的设计  

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作  者:杨虹[1] 向高林[1] 周明[1] 陈立昱[1] 

机构地区:[1]重庆邮电大学光电工程学院,重庆400065

出  处:《电子制作》2013年第6X期63-64,共2页Practical Electronics

摘  要:本来设计了一款基于单片机MSP430F5438的智能测试仪。该智能测试仪不仅具有一般万用表测量电路参数的功能,还可以为用户提供所需的外用电压,并且能够智能地转化量程。它克服了传统测量仪器的实现功能单一和需手动转换量程的缺点,具有易操作,低功耗,经济,便携带等特点。

关 键 词:MSP430F5438 电路参数测量 智能 低功耗 

分 类 号:TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]

 

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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二级引证文献:

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同被引文献:

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相关期刊文献:

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