CMOS集成电路的ESD测试  

作　　者：唐立伟 

机构地区：[1]英图微电子(合肥)有限公司,安徽合肥230022

出　　处：《电子制作》2013年第12X期7-8,共2页Practical Electronics

摘　　要：文章介绍了CMOS集成电路ESD的概念和静电的产生,研究了ESD测试的常用模型HBM、MM,分析了常用测试组合,说明了CMOS集成电路ESD测试的重要性。

关 键 词：ESD HBM MM 

分 类 号：TN432[电子电信—微电子学与固体电子学]