0.1~12 GHz SMD元件测量与校准方法的研究  

作　　者：杨贺[1] 

机构地区：[1]电子科技大学,四川成都611731

出　　处：《电子制作》2014年第2X期66-66,共1页Practical Electronics

摘　　要：通过研究国内外资料我们发现,现阶段对于SMD(无源表面贴装元器件)的微波测量方法(2GHz以上)还非常有限,该频段的测量技术较为缺乏,国内还基本没有合适通用的测量方法。本文设计了在0.1~12GHz频段上对SMD元件的测量与校准方法。通过TRL校准方法在2~12GHz进行测量与校准,并且为了扩展低频段测量范围我们加入了TRM校准方法实现低频段的校准与测量。并且通过我们设计的可调夹具测量了电容元件与电阻元件验证了方法的可行性。另外,通过多次测量以及对结果的分析验证了本文的测量与校准方法是可行的的,且具备良好的重复性。

关 键 词：SMD 可调夹具 微波测量 TRM校准方法 

分 类 号：TN606[电子电信—电路与系统]