追踪检索在测量领域审查中的应用  

作　　者：郭军宏[1] 徐泽昕[1] 

机构地区：[1]国家知识产权局专利局专利审查协作北京中心,100096

出　　处：《电子制作》2014年第14期105-106,共2页Practical Electronics

摘　　要：本文从追踪检索在测量领域审查工作中的实践出发,浅析测量领域的技术特点,在把握普通检索的基础上,浅谈追踪检索能够提高检索效率的技巧,并通过案例予以说明。

关 键 词：检索 追踪 测量 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]