清华大学国家工程研究中心推出CD-R光盘参数检测仪  

OMNERC Issued CD-R Test Unit

出　　处：《光盘技术》2002年第5期16-16,共1页CD TECHNOLOGY

摘　　要：清华大学国家工程研究中心通过与国外有关公司的紧密合作,依据国家新闻出版行业标准“可记录光盘(CD-R)常规检测参数”,共同开发了CD-R光盘参数检测仪,该检测仪具有以下特点: 检测仪的光学、机械、电路、信号提取、信号传递和信号测量等符合国际相关标准及国家新闻出版行业标准“可记录光盘(CD-R)常规检测参数”

关 键 词：清华大学国家工程研究中心 CD-R光盘 参数检测仪 可记录光盘 

分 类 号：TQ595[化学工程—精细化工]