VXI总线测试系统的优化方案  

Optimization Scheme of VXIbus Test System

作　　者：孔敏[1] 鞠建波[1] 

机构地区：[1]海军航空工程学院电子工程系,山东烟台264001

出　　处：《电讯技术》2002年第5期51-54,共4页Telecommunication Engineering

摘　　要：概述了VXI总线器件的分类 ,讨论了VXI总线消息基器件和寄存器基器件的特点 ,以及在测试系统中 2种器件对测试吞吐量和程序设计的影响 。This paper summarizes the classification of VXIbus devices, then discusses the characteristics of VXIbus message-based and register-based devices, as well as the influence of these devices on system throughput and programming. Solutions to optimize the test system are presented.

关 键 词：VXI总线 测试系统 优化方案 消息基器件 寄存器基器件 测试吞吐量 

分 类 号：TP336[自动化与计算机技术—计算机系统结构]