基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计  

作　　者：钱斌 

机构地区：[1]海军航空装备计量监修中心,上海200436

出　　处：《信息与电脑》2016年第6期97-98,共2页Information & Computer

摘　　要：针对小批量显卡产品测试中存在资源利用率低、大量专用测试仪管理难的问题,笔者通过对SOPC技术的研究,在通用显卡测试仪上运用SOPC技术,提出了一种基于SOPC技术的通用化测试仪的设计方法,完成了基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计方案,并最终根据设计目的给出了相应实例,证实该方法具有一定可行性。通过对该方法的研究,对于提高通用显卡测试仪的性能具有一定意义。

关 键 词：SOPC NiosII测试 通用显卡 

分 类 号：TP273.5[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]