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作 者:李永宏[1] 寇勃晨 赵耀林[1] 贺朝会[1] 于庆奎[2] LI Yonghong;KOU Bochen;ZHAO Yaolin;HE Chaohui;YU Qingkui(School of Nuclear Science and Technology,Xi’an Jiaotong University,Xi’an 710049,China;China Aerospace Component Engineering Center,Beijing 100029,China)
机构地区:[1]西安交通大学核科学与技术学院,陕西西安710049 [2]中国航天宇航元器件工程中心,北京100029
出 处:《原子能科学技术》2018年第10期1735-1739,共5页Atomic Energy Science and Technology
基 金:强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室基金资助项目(SKLIPR1610);国家自然科学基金资助项目(11475256)
摘 要:本文使用Geant4模拟了1、5、10、20、50、100、500、1 000MeV能量的质子入射GaAs的位移损伤情况。随入射质子能量的增大,产生的初级离位原子(PKA)数目增加、种类增多;PKA能谱分布总体上呈递减趋势,PKA在低能量区间所占份额降低,在高能量区间所占份额升高。研究结果表明,辐射缺陷浓度在质子入射方向上遵循布拉格规律。The displacement damage induced by 1,5,10,20,50,100,500,1 000 MeV protons in GaAs was simulated with the Geant4 software.It’s found that the number and variety of PKA increase with the incident proton energy.And with the increase of incident proton energy,the PKA energy spectrum has a decrease variation,and the proportion of PKA at low energy range is reduced,while that at high energy range is raised.Simulation results show that the defect concentration has a typical Bragg’s distribution along the proton incident path.
分 类 号:TL341[核科学技术—核技术及应用]
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