面向电子控制器的片上可调试性结构设计  

作　　者：结硕 张黎[1] 

机构地区：[1]北京工业大学耿丹学院,北京市101301

出　　处：《电子技术与软件工程》2018年第21期92-92,共1页ELECTRONIC TECHNOLOGY & SOFTWARE ENGINEERING

摘　　要：从当今高可靠电子器件的功能调试方面来看,如今串口形式依然是主流形式,占据大半市场,但是其整体通信效率低、误码率较高、不适合功能集成等情况已经无法满足未来市场发展趋势。基于此,本文首先对串口调试方案进行分析,进而提出一种基于JTAG的调试方案与系统设计,旨在弥补串口方案的弊端。

关 键 词：电子控制器 片上可调式 结构设计 JTAG串口 

分 类 号：TN02[电子电信—物理电子学]