高精度微波夹具设计中的TRL校准技术  

TRL Calibration Technique in High Precision Microwave Fixture Design

作　　者：任翔[1] 张一治[1] 李硕[1] 李静[1] REN Xiang;ZHANG Yizhi;LI Shuo;LI Jing(Aerospace Science and Industry Defense Technology Research Testing Center,Beijing 100854)

机构地区：[1]航天科工防御技术研究试验中心,北京100854

出　　处：《计算机与数字工程》2019年第1期15-18,共4页Computer & Digital Engineering

摘　　要：TRL校准是一种非常精确的校准方式,尤其适用于非标准接口的微波器件S参数的精确测试。论文探讨了有关TRL校准技术,从TRL校准技术理论模型分析,到设计TRL校准件的要求,到设计TRL校准件时需考虑的因素,对TRL校准技术做了较全面的介绍。TRL calibration is a very precise way of calibrating,it is especially applicable to the accurate test of the microwave device's S parameters of non-standard interfaces.This paper discusses the TRL calibration technique,the theoretical model of TRL calibration technique is analyzed,the requirement and consideration of designing TRL calibration are discussed,the TRL calibra-tion technique is introduced comprehensively.

关 键 词：TRL校准 微波测试 网络分析仪 S参数 

分 类 号：TN368[电子电信—物理电子学]