探究X射线荧光分析对欧盟RoHS指令的影响  

在线阅读下载全文

作  者:袁明波 

机构地区:[1]通标标准技术服务有限公司西安分公司,陕西西安710065

出  处:《科学与信息化》2018年第30期180-181,183,共3页Technology and Information

摘  要:本文介绍了采用XRF(X射线荧光光谱分析)对电子电气产品中铅、镉、汞、铬及总溴测试的一般原理,并结合实际的使用经验,对测试中样品的制备、测试过程的优化、谱线的选择做了阐述,对企业应对欧盟RoHS法规物料筛选具有一定的指导意义。

关 键 词:XRF X射线荧光分析 ROHS指令 IEC62321 

分 类 号:O657.34[理学—分析化学]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象