试述介质覆层对圆柱共形微带天线性能的影响  

作　　者：吴峻岩 马成睿 陶琴 

机构地区：[1]空军预警学院,湖北武汉430019 [2]94639部队,江苏南京211599

出　　处：《科学与信息化》2018年第25期122-122,125,共2页Technology and Information

摘　　要：天线工作受到多个因素影响,这些因素有可能影响天线的使用价值,合理加以控制、应用也能发挥积极作用。基于此,本文以介质覆层对圆柱共形微带天线性能的基本影响作为分析的切入点,论述其影响谐振频率、降低阻抗带宽等情况,再以此为基础,通过模拟实验对上述理论进行证明,以期通过分析明晰理论,为后续圆柱共形微带天线的应用提供参考。

关 键 词：介质覆层 微带天线 谐振频率 阻抗带宽 

分 类 号：TN822.4[电子电信—信息与通信工程]