芯测科技提供车用芯片内存测试专用算法  

作　　者：芯测科技 

机构地区：[1]不详

出　　处：《中国集成电路》2019年第4期10-10,共1页China lntegrated Circuit

摘　　要：日前,芯测科技(iSTART-Tek Inc.)宣布提供车用芯片内存测试专用算法,通过可配置性设定,协助用户经过简单的设定,即可快速地产生内存测试与修复电路。车用电子相关芯片大多使用Multi-Port(Two-Port和Dual-Port)的静态随机存取内存(SRAM)并且与车用电子相关程序多半以Burst Read和Write居多。因此芯测科技提出许多测试上述情况的车用电子专用算法在内存测试电路开发环境中。

关 键 词：随机存取内存 测试电路 车用电子 算法 芯片 科技 电子相关 可配置性 

分 类 号：TN722.77[电子电信—电路与系统]