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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王洪岩 吴英伟 路志爽 WANG Hongyan;WU Yingwei;LU Zhishuang(Army Engineering University, Shijiazhuang 050003, China;The No. 63850 th Troop of PLA, Baicheng 137001, China;The No. 32137 th Troop of PLA, Zhangjiakou 075000, China)
机构地区:[1]陆军工程大学石家庄校区弹药工程系 [2]中国人民解放军63850部队 [3]32137部队
出 处:《兵器装备工程学报》2019年第4期124-127,共4页Journal of Ordnance Equipment Engineering
摘 要:对实际非密封储存2、4、6~12年的引信高频部件进行储存性能检测试验,结果表明,高频部件失效存在振荡电压峰峰值降低失效和检波电压降低失效两种;从储存第6年开始出现失效,储存6~12年分别失效4、5、7、10、7、6、10发;振荡电压峰峰值和检波电压均值均有下降趋势,但振荡频率和饱和检波电压未失效。This paper carried out storage performance test on fuze high-frequency components of actual unsealed storage for 2, 4, 6~12 years. The results show that there are two phenomena of high frequency component failure, such as peaking and lowering of oscillating voltage and failure of detection voltage. Failure occurred from the sixth year of storage, and 4, 5, 7, 10, 7, 6, and 10 failures were stored for 6 to 12 years. The mean value of peak value of oscillating voltage and detection voltage have a downward trend, but the oscillation frequency and the saturation detection voltage have not failed.
关 键 词:电容近炸引信 高频部件 储存性能试验 振荡电压 检波电压 储存失效
分 类 号:TJ43[兵器科学与技术—火炮、自动武器与弹药工程]
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