2019年全国电子显微学学术年会征文通知(第一轮)  

作　　者：中国电子显微镜学会 “2019年全国电子显微学学术年会”秘书处 

机构地区：[1]不详

出　　处：《电子显微学报》2019年第3期I0004-I0004,共1页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

摘　　要：一、2019年全国电子显微学会议通知2019年全国电子显微学学术年会将于10月15-19日在合肥举行。大会的学术交流内容包括透射电子显微镜、扫描电子显微镜、低温电子显微镜、扫描探针显微镜(STM、AFM等)和激光共聚焦显微镜等显微分析仪器在物理学、材料科学、纳米科技、生命科学、结构生物学、化学化工、环境科学、建筑和地学等领域中的基础和应用研究成果;显微学相关仪器的理论、技术和实验方法的发展与改进;电镜及其它显微学仪器的使用、改进与维修经验的交流等。

关 键 词：电子显微学 学术年会 征文通知 透射电子显微镜 激光共聚焦显微镜 扫描电子显微镜 扫描探针显微镜 分析仪器 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学]