应用超薄切片技术对侧光型背光源白色反射膜的凸起进行定点切割方法的改进  

Improvement of method to test the embossment height of white reflective film for side light type backlight

作　　者：杨慧[1,2] 贾云玲[1] 鞠晶 YANG Hui;JIA Yunling;JU Jing(Peking University, Beijing, 100871, China;Capital Medical University,Beijing, 100069, China)

机构地区：[1]北京大学,北京100871 [2]首都医科大学,北京100069

出　　处：《分析仪器》2019年第4期80-83,共4页Analytical Instrumentation

摘　　要：侧光型LED背光源在大型液晶显示器制造业有良好的应用前景,一种表面带有凸起的白色反射膜可以改善侧光源亮度的均匀性。凸起的高度对该反射膜的性能具有决定性作用,因此对凸起进行定点切割和高度测量表征至关重要。该反射膜专利采用传统方法对凸起进行定点切割和高度测量,该方法已经远远落后于目前新设备和切割技术发展水平。本实验应用超薄切片机对该方法进行改进,建立了一种基于超薄切片技术的样品制备方法。新的制样方法可以做到精准定点切割,结果更加准确,对指导该反射膜性能研究、工艺改善、专利界定等方面有重要意义。Using ultrathin sectioning technique, the new method improves the old sectioning and testing method set up in Japanese lab years ago. It is more practical and accurate.

关 键 词：超薄切片技术 定点切割 侧光型背光源白色反射膜 样品制备 

分 类 号：TN873.93[电子电信—信息与通信工程]