适用于5G OTA射频测试的动态赋形紧缩场研究及其应用  

Research and applications of dynamic beamforming compact range

作　　者：任宇鑫 张翔 魏贵明 李雷 孙浩[2] 宫剑 REN Yuxin;ZHANG Xiang;WEI Guiming

机构地区：[1]中国信息通信研究院技术与标准研究所无线与移动研究部 [2]北京邮电大学 [3]国家无线电监测中心检测中心

出　　处：《信息通信技术与政策》2019年第8期17-21,共5页Information and Communications Technology and Policy

摘　　要：由于5G引入大规模天线Massive MIMO和毫米波技术,4G时期采用传导测试的方式已经无法满足5G基站测试需要,因此5G基站射频指标测试转向采用OTA空口测试方法。本文在分析大型紧缩场测试方法的基础上,介绍了一种能够支持Sub6GHz5G基站测试的小型化、低成本的新方法,即动态赋形紧缩场的测试方法。通过从原理到实际验证的阐述,说明该方法能够满足3GPP规范要求的全部5G基站射频指标测试,能够大幅降低场地要求和构建成本,显著提升测试效率,为5G基站测试提供一种全新的测试解决方案。该方案已经在3GPPRAN4#90B会议上一致通过,并将写入TR37.843测试规范中。

关 键 词：动态赋形紧缩场 平面波 射频指标 OTA 5G 

分 类 号：TN929.5[电子电信—通信与信息系统]