电磁兼容中的测试与处理的相关技术分析  

作　　者：黄臣君 

机构地区：[1]上汽通用五菱汽车股份有限公司

出　　处：《时代汽车》2019年第13期22-23,共2页Auto Time

摘　　要：随着电气技术的飞速发展和电子设备的使用愈发频繁,进而就出现了各种电磁兼容问题,并迟迟得不到很好的解决,所以人们开始重视起了提高电子设备的电磁兼容性能和测试方法。电磁兼容技术主要包括了两个方面,一是电磁干扰技术,二是电磁抗干扰技术。在电磁干扰方面具有研究成本较高,且电磁干扰测量技术不够成熟等问题;在静电放电方面具有危害大,发生频繁,防护方法繁杂等问题,所以对于电磁兼容的研究和技术分析十分必要。本文就针对上述的问题展开研究,从电磁兼容中的干扰测量问题和电磁抗干扰中的静电放电问题着手,并给出理论分析和验证。

关 键 词：电磁兼容 GTEM小室 静电放电 测试与处理 

分 类 号：TN949.12[电子电信—信号与信息处理]