检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:孙偲晟 Sun Sicheng(Photoelectricity Information Research Centre,CSGC Shanghai Electric Research Department,Shanghai 200092,China)
机构地区:[1]中国兵器装备集团上海电控研究所光电信息研发中心
出 处:《单片机与嵌入式系统应用》2019年第11期69-74,共6页Microcontrollers & Embedded Systems
摘 要:为了能够在工业现场进行SDI传输特性的测量,开发了一种基于FPGA的3GSDI信号传输测试装置,可以生成标准的彩条信号或者接入测试图像源,通过FPGA内串行化或解串行输入输出通道的SDI信号进行传输误码率的统计及延迟的测量,并通过内部计算得到测试结果。In order to measure the transmission characteristics of SDI in industrial field,a kind of 3G-SDI signal transmission test device based on FPGA is developed.It can generate standard color bar signals or access the test image source,and measure the transmission error rate and delay by serialization or de-serialization of SDI signals in the input and output channels of the FPGA.The test results are obtained by the internal calculation.
关 键 词:SD/HD/3GSDI FPGA 传输延迟
分 类 号:TP31[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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