全反射X荧光分析及其应用  

Total Reflection x-ray Fluorescence Analysis and Its Appliance

作　　者：田宇紘[1] 马国立[1] 王国栋[1] 郑素华[1] 刘恺[1] 付克明[1] 

机构地区：[1]烟台大学,烟台264005

出　　处：《现代科学仪器》2001年第6期14-16,共3页Modern Scientific Instruments

摘　　要：全反射X荧光 (TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术 ,由于其快速、灵敏度高、可同时分析多个元素 ,近年来得到了迅猛发展。本文简要介绍了该仪器的结构。Total reflection X ray fluorescence analysis is a novel technique.It is rapid developed in recent years because of its high speed,high sensitivity and multi element simultaneous analysis.In this paper,the principal,structure and application of TXRF spectrometer set up by our lab are introduced.

关 键 词：全反射X荧光分析 TXRF 光谱仪 

分 类 号：O657.3[理学—分析化学]