一种新型高低温老化房  

A New High-Low Temperature Ageing House

作　　者：曹捷[1] 张国琦[1] 

机构地区：[1]中国科学院西安光机所,陕西西安710068

出　　处：《电子工艺技术》2002年第6期253-255,共3页Electronics Process Technology

摘　　要：介绍了一种适合电子产品进行高低温老化实验的新型装置,列出了该装置的原理及主要技术参数,并对实验测试结果进行了讨论。Introduce a new house which is suitable for high-low temperature ageing exprement of electronics products.Give out principle and main parameters of the house.Discuss the test measuring results.

关 键 词：高温 低温 老化房 模糊智能 闭环控制 老化实验 电子整机产品 

分 类 号：TN606[电子电信—电路与系统] TN707