频域光存储中读出信噪比与材料特性的研究  

Study on Reading Signal-to-Noise Ratio and Material Characteristics in Frequency Domain Optical Storage

作　　者：翟金会[1] 阮玉[1] 竺子民[1] 

机构地区：[1]华中理工大学光电子学系,武汉430074

出　　处：《半导体光电》1992年第4期394-397,405,共5页Semiconductor Optoelectronics

基　　金：本项目获得国防科工委预研基金资助

摘　　要：本文对光子选通频域光存储系统读出信噪比以及记录介质材料特性对读出信噪比的影响进行了分析,通过计算机模拟分析得到最佳材料参量空间,可为材料研究提供理论依据。This paper analyzes the reading signal-to-noise ratio of photo- gated frequency domain optical storage(PG-FDOS) system and the effect of material characteristics on the reading SNR of PG-FDOS system.The optimal materials paramter space is achieved by computer simulation analysis.The result can offer theoretical guidance for the study of materials.

关 键 词：光谱烧孔 光存储 信噪比 材料 

分 类 号：TP333.4[自动化与计算机技术—计算机系统结构]