星载计算机抗辐射加固技术研究  

作　　者：华更新[1] 王国良[1] 郭树玲[1] 艾蔚[1] 许盛柯[1] 于坤[1] 

机构地区：[1]北京控制工程研究所

出　　处：《控制工程（北京）》2002年第4期20-30,共11页

摘　　要："星载计算机抗辐射加固技术"目标是掌握星载计算机系统级抗辐射加固技术。课题通过单粒子效应试验和,总剂量效应试验对386ex的抗辐射能力进行了重点评估,针对星载计算机的抗辐射薄弱环节,研究抗辐射加固措施,完成了 386ex三机变结构和486单板双机两种抗辐射原理样机。在抗单粒子效应方面重点研究了多机容错技术和存储器校验技术;在抗总剂量效应方面重点研究了屏蔽材料和屏蔽工艺实现,实践中用钨实现了电子元器件的局部屏蔽。软件方面重点研究了实时多任务操作系统及其抗辐射问题。

关 键 词：星载计算机 抗辐射 加固技术 

分 类 号：TP38[自动化与计算机技术—计算机系统结构]