铜杆组织性能对漆包线表面缺陷的影响  被引量:4

Effect of Microstructure and Properties of Copper Rod on Surface Defects of Enameled Wire

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作  者:余琪 危利民 李明茂 陈辉明 王松伟 张鹏飞 钟方友 陈岩[2] YU Qi;WEI Limin;LI Mingmao;CHEN Huiming;WANG Songwei;ZHANG Pengfei;ZHONG Fangyou;CHEN Yan(JCC Processing Business Division,Nanchang 330096,China;Institute of Metal Research,Chinese Academy of Sciences,Shenyang 110016,China;Institute of Engineering Research,Jiangxi University of Science and Technology,Ganzhou 341000,China)

机构地区:[1]江西铜业加工事业部,江西南昌330096 [2]中国科学院金属研究所,辽宁沈阳110016 [3]江西理工大学工程研究院,江西赣州341000

出  处:《电线电缆》2019年第5期11-13,共3页Wire & Cable

摘  要:通过组织分析、性能测试、表面腐蚀及铜粉检测,论述了铜杆晶粒组织、次表层质量、扭转后表面质量、铜粉量对漆瘤的影响。提出了适用于漆包线用铜杆的控制要求及选材标准,以减少漆瘤,提升产品质量。The effects of grain structure,sub?surface quality,surface quality after torsion and copper powder content on lacquer tumors are discussed by means of structure analysis,performance test,surface corrosion and copper pow?der detection.The control requirements and material selection criteria of copper rods for enameled wire are put forward to reduce lacquer tumors and improve product quality.

关 键 词:漆包线 漆瘤 铜杆 次表层 铜粉 

分 类 号:TM245.1[一般工业技术—材料科学与工程]

 

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