液晶显示面板质量改善试验方法探讨(一)  

作　　者：刘铁磊 刘志昂 高志刚 常晶 汪柯宇 

机构地区：[1]京东方科技集团股份有限公司CS运营部

出　　处：《电子世界》2019年第14期28-29,32,共3页Electronics World

摘　　要：LCD行业Mura类不良是普遍存在的问题,部分新产品量产初期发生率维持在2.5%以上。本文主要阐述B司质量改善小组,在明确Mura类不良产生因素的基础上,运用0.618法、均分法、方差分析等常用统计分析工具,通过合理安排试验,得出最佳量产条件,并最终将发生率控制在0.5%以下。旨在为工厂不良改善活动提出合理化的试验思路,从而有效减少试验次数,降低生产成本。总结工厂实际不良改善经验,以上方法在LCD工厂不良改善活动中基本适用。

关 键 词：液晶显示面板 LCD 统计分析工具 质量改善 Mura 0.618法 方差分析 试验次数 

分 类 号：TN8[电子电信—信息与通信工程]