超大规模集成电路测试技术综述  

作　　者：韦紫菱 常郝[1] 

机构地区：[1]安徽财经大学计算机科学与技术系

出　　处：《电子世界》2019年第15期122-123,126,共3页Electronics World

基　　金：安徽省自然科学基金青年项目(编号:1808085QF196);安徽财经大学教学研究重点项目(编号:acjyzd201835);国家级大学生创新创业训练计划项目(编号:201810378201)

摘　　要：随着纳米制造技术和集成电路系统的高速发展,超大规模集成电路(VLSI)的内部结构越来越复杂,其测试难度越来越大、测试成本越来越高,本文对目前广泛应用的超大规模集成电路测试技术进行了总结和分类,分析了他们的特性和适用范畴,为今后对VLSI测试技术的研究提供了有效的理论依据。

关 键 词：集成电路测试技术 测试成本 内部结构 纳米制造技术 集成电路系统 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]