检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:黄少侃 鲁雪峰 黄波[1] 江思杰[1] 江传华[1] HUANG Shao-kan;LU Xue-feng;HUANG Bo;JIANG Si-jie;JIANG Chuan-hua(NO.722 of CSIC,Wuhan 430079)
机构地区:[1]中国船舶重工集团公司第七二二研究所
出 处:《环境技术》2019年第5期59-62,共4页Environmental Technology
摘 要:针对新研海军舰船复杂电子装备可靠性指标验证中存在的试验时间与允许故障数存在的矛盾问题,本文提出了利用可靠性增长试验来替代可靠性鉴定试验的方案,即缩短了试验时间,又避免了在可靠性鉴定试验中,依据鉴别比、使用方风险来选择定时截尾试验方案时面临的困境,并结合案例阐明了该方案的实际工程应用。In view of the contradiction between test time and allowable number of faults in reliability validation of naval electronic equipment,this paper proposes a scheme of using reliability growth test.It shortens the test time and avoids the difficulty in selecting timing truncation test scheme according to identification ratio and risk in reliability qualification test.The practical application of the scheme is illustrated with a case study.
关 键 词:可靠性增长试验 电子装备 可靠性鉴定试验 可靠性指标验证
分 类 号:TJ01[兵器科学与技术—兵器发射理论与技术]
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