检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:陈世钢
机构地区:[1]中国电子技术标准化研究院
出 处:《安全与电磁兼容》2019年第6期26-29,43,共5页Safety & EMC
摘 要:分析了GJB 151B-2013 CS101、CS106、CS114和CS116试验电平施加的共同特点,即其施加电平都需要在校验值和监测值之间进行动态比较;用电路理论说明了由于校验电路所用负载和实际测试负载不同,导致按校验文件注入信号时实际监测电平与校验值可能有很大的差别。严格按照GJB 151B-2013规定的测试方法可以避免过测试。This paper analyzes the common characteristic of GJB 151B-2013 CS101,CS106,CS114 and CS116 when testing levels are applied to,that is the applied levels need a dynamic comparison between the calibration value and the monitored value,explain with the circuit theory that the difference between the calibration value and the actual monitoring level may be very obvious when the calibration file is used to control the actual injected signal due to the difference between the load used in the calibration circuit and the actual test load.The conclusion is drawn that over-testing can be avoided by using standardized testing methods of GJB 151B-2013.
关 键 词:GJB 151B-2013 测试 校验 电平 监测 负载
分 类 号:TN0[电子电信—物理电子学]
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