芯片低功耗模式调试功能设计  

Design of chip Low Power Mode Debugging Function

作　　者：张洪波 ZHANG Hong-bo(CEC Huada Electronic Design Co.,Ltd,Beijing 100102,China;Beijing Key Laboratory of RFID Chip Test Technology)

机构地区：[1]北京中电华大电子设计有限责任公司 [2]射频识别芯片检测技术北京市重点实验室

出　　处：《中国集成电路》2019年第12期57-62,共6页China lntegrated Circuit

摘　　要：本文通过对NXP芯片的低功耗调试功能进行分析,提出了芯片“睡眠模式(Sleep)、等待模式(Standby)、掉电模式(Power Down)”3种低功耗模式的调试功能设计方案,分别对芯片上电进入低功耗模式仿真器的连接功能,在Debug界面下进入低功耗的调试功能进行论述。本文提出了芯片低功耗模式调试功能设计方案,增加芯片调试功能的易用性,为芯片在线Debug功能设计提供参考。Through the analysis of the low power debugging function of NXP chips,this paper puts forward three low power debugging function design schemes of chip"Sleep mode","Standby mode"and"Power Down mode".The emulator connection function after power on the chip enters the low power mode,and the low power debugging function under Debug interface are discussed.This paper presents a low power mode debugging function design method for general purpose chips,which can increase the usability of debugging function,and provide a reference for Online Debug Function design of chips.

关 键 词：低功耗 调试功能 在线Debug技术 

分 类 号：TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]