检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:柴海燕 丁霞 王凯风 谢立鹏 Chai Haiyan;Ding Xia;Wang Kaifeng;Xie Lipeng(BOE Technology Group Co.,Ltd.,Beijing 100176,China)
机构地区:[1]京东方科技集团股份有限公司
出 处:《计算机测量与控制》2020年第1期127-129,140,共4页Computer Measurement &Control
摘 要:目前的缺陷分析还是基于数据层面分析与预测,对软件测试工作的价值贡献受到局限;文章设计了一种基于三层知识模型的软件缺陷管理系统;通过把知识库的结构引入到软件缺陷管理中,把缺陷分析从数据管理层面提升为知识管理层面;通过事实知识层、中间层、策略层三层知识库结构对软件开发测试过程中产品产生的技术数据、管理过程数据进行采集沉淀,提取软件缺陷预测规则,并生成能指导软件测试工作的策略报告;有助于从根本上提升软件测试工作水平和效率。Current defect analysis is based on data level analysis and prediction,and the value contribution to software testing work is limited.This paper designs a software defect management system based on three-layer knowledge model.By introducing the structure of the knowledge base into software defect management,the defect analysis is upgraded from the data management level to the knowledge management level.Through the three-layer knowledge base structure of fact knowledge layer,middle layer and strategy layer,the technical data and management process data generated by the software during the software development test process are collected and precipitated,the software defect prediction rules are extracted,and a strategy report capable of guiding the software test work is generated.It helps to fundamentally improve the level and efficiency of software testing.
分 类 号:TP311[自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
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