基于自由空间法的面粉品质介电常数探测  

Detection of dielectric constant of flour based on free space method

作　　者：谢飞武 赵不贿[1] 徐雷钧[1] 王宇 Xie Feiwu

机构地区：[1]江苏大学电气信息工程学院

出　　处：《江苏农业科学》2020年第1期214-219,共6页Jiangsu Agricultural Sciences

基　　金：国家自然科学基金(编号:61874050);江苏省自然科学基金(编号:BK20161352);江苏省第十三批六大人才高峰高层次人才项目(编号:DZXX-018);江苏省农业科技自主创新项目[编号:CX(17)3001]

摘　　要：针对面粉的安全问题,获取一种可以快速有效检测面粉品质的方法对于控制面粉安全事故的发生具有极其重要的意义,根据面粉对不同波长电磁波反射率的差异特性,对基于谐振点测量面粉介电属性的自由空间法进行理论分析,并以矢量网络分析仪(VNA)组成测试平台,利用谐振峰/谷位置及其相互关系,测量不同厚度面粉的介电参数,分析正常面粉与霉变面粉的特征谱。在频域范围内利用待测面粉的反射率谐振位置-谐振峰/谷值特性测量面粉的介电常数,对同批次正常面粉的测量结果,1.5、1.8、2.0 cm厚度的面粉介电常数没有明显差异,通过对其进行误差分析发现,符合测试要求;而1.5 cm厚正常面粉和1.5 cm厚霉变面粉测得的介电常数差异较大。试验结果表明,基于谐振点测量的自由空间法是一种快速有效测量面粉介电常数和是否霉变的方法。

关 键 词：自由空间法 矢量网络分析仪(VNA) 谐振峰/谷 介电常数 

分 类 号：S237[农业科学—农业机械化工程] TS211.3[农业科学—农业工程]