简易电路测试仪设计  

作　　者：闫智[1] 于柏[1] 

机构地区：[1]天津商业大学信息工程学院,天津300134

出　　处：《电子工程学院学报》2020年第4期113-113,115,共2页Journal of The College of Electronic Engineering

基　　金：天津市科技计划课题项目(19JCTPJC53400)。

摘　　要：本设计以STM32单片机系统作为数据处理和控制中心,用于检测被测电路的电路特性,包括测量被测电路的输入、输出电阻,增益,参数变化和幅频频特性等。该系统主要包括正交信号产生模块,乘法器电路,低通滤波器,三极管放大电路和测量显示模块电路等。

关 键 词：STM32单片机 零中频正交解调 电阻分压法 AD9854 AD835 AD637 

分 类 号：TN7[电子电信—电路与系统]