检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:龚永林
机构地区:[1]不详
出 处:《印制电路信息》2020年第3期67-67,共1页Printed Circuit Information
摘 要:新型检查装置在2020IPC APEX展览会上CIMS公司展示激光钻导通孔检查装置,从以往的激光孔选样检查到对激光过孔100%检测的新需求。还有一种新的直接激光加工穿透基板贯通孔的检查解决方案,使用的是基于LED的照明,称为ViaLight?,它构建在桌子内部,与称为Microlight?的传统照明相结合,从顶部照亮PCB表面。通过这种双照明设置,可以看到钻孔的内部和外部整个图像。
分 类 号:TN41[电子电信—微电子学与固体电子学]
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