拟立项制定《LED的快速测量方法》国家标准等同采用CIE 226:2017  

机构地区：[1]国家市场监管总局国家标准委

出　　处：《中国照明电器》2020年第2期34-34,共1页China Light & Lighting

摘　　要：LED产线过程复杂,从最初的外延层生长、芯片处理再到芯片的封装,加之不同芯片材料的采用,通常导致最终LED产品的光色电参数不能达到指定的要求;为保证LED产品的品质,对LED的产线快速测量十分必要;其次,LED产品具有强烈的温度依赖性,对于LED产品的测试条件进行定义和规范是保证测试结果准确性和重现性的关键。本标准的制定旨在为LED快速产线测量的测试条件及测试方法进行规范,填补国内相应标准的缺少,指导行业的健康发展。国外方面,CIE早在CIE 127:2007中就提出批量测试(Bulk Testing)的概念。

关 键 词：LED CIE 226 《LED的快速测量方法》 快速测量 

分 类 号：TN312.8-65[电子电信—物理电子学]