是德科技携手NOEIC和CompoundTek,共同建立PIC自动化测试的布局设计标准  

出　　处：《电子测量与仪器学报》2020年第2期202-202,共1页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

摘　　要：是德科技近日宣布,该公司即将与国家信息光电子创新中心(NOEIC)和CompoundTek展开合作,三方携手建立光子集成电路(PIC)自动化测试的布局设计标准。NOEIC是一家旨在为信息光电子产业打造世界级研发能力的创新机构;CompoundTek是提供新兴硅光解决方案(SiPh)的全球晶圆代工服务领先企业;是德科技是一家领先的技术公司,致力于帮助企业、服务提供商和政府客户加速创新,创造一个安全互联的世界。

关 键 词：光电子产业 自动化测试 布局设计 晶圆代工 NOE 研发能力 服务提供商 PIC 

分 类 号：F416.6[经济管理—产业经济]