检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:陆希宝 Lu Xibao(Changchun Boli Electronic Technology Co.,Ltd,Changchun Jilin,130015)
机构地区:[1]长春博立电子科技有限公司,吉林长春130015
出 处:《电子测试》2020年第10期60-62,共3页Electronic Test
摘 要:本文结合HTH电路的复杂性等特征分析与实际应用现状,研究了HTH电路的具体检测技术方法并对当前热点技术进行对比分析,探讨了HTH电路检测方法的技术发展趋势。In this paper,combined with the analysis of the complexity of HTH circuit and the actual application status,the specific detection methods of HTH circuit are studied,and the current hot technologies are compared and analyzed,and the technical development trend of HTH circuit detection methods is discussed.
分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]
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