检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第二十二研究所 [2]中国联合网络通信有限公司青岛市分公司
出 处:《电子世界》2020年第7期182-183,共2页Electronics World
摘 要:由于各类电子产品的普遍应用,系统的集成度越来越高,随之而来的是系统间电磁兼容性问题也会越来越突出,最有效也是最直接的方法就是对其开展电磁兼容测试。受设备体积的限制以及测试实时性的约束,目前,电磁兼容测试愈发地需要在外场进行测试,但测试结果必然会因所处环境的影响而不准确,因此,本文针对电磁兼容外场测试的特点,从信号的相位特性出发,分析了其可行性与适用性。
关 键 词:电磁兼容测试 外场测试 电子产品 相位特性 系统间电磁兼容 设备体积 环境的影响 适用性分析
分 类 号:TP3[自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.170