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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王雷 孔小东[1] 苏小红 李曦[1] WANG Lei;KONG Xiao-dong;SU Xiao-hong;LI Xi(Department of Basic,Navy University of Engineering,Wuhan 430033,China)
出 处:《材料保护》2020年第1期157-163,共7页Materials Protection
摘 要:概述了近些年来微区电化学测量技术在电偶腐蚀方面的研究进展,包括丝束电极技术(WBE)、扫描电化学显微镜(SECM)、扫描振动参比电极技术(SVET)、局部电化学交流阻抗谱(LEIS)、扫描开尔文探针(SKP)等微区电化学测量技术的应用状况,并对其未来的发展及应用进行了论述。This paper summarizes the progress of micro-area electrochemical testing technology in galvanic corrosion in recent years,including wire beam electrode( WBE) technique,scanning electrochemical microscopy( SECM),scanning vibrating reference electrode technique( SVET),localized electrochemical impedance spectroscopy( LEIS),scanning Kelvin probe( SKP) and others. Furthermore, the corresponding development and application in the future are discussed.
关 键 词:微区电化学 丝束电极 扫描电化学显微镜 扫描振动参比电极 局部电化学交流阻抗谱 扫描开尔文探针 电偶腐蚀 应用
分 类 号:TG172[金属学及工艺—金属表面处理]
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