检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:黄云锴[1] 潘毓娴 储松潮[1] 汪威[1] 潘焱尧 徐亚宁
机构地区:[1]安徽铜峰电子股份有限公司
出 处:《安徽科技》2020年第6期45-47,共3页Anhui Science & Technology
摘 要:电容器损耗产生的主要原因是介质损耗和导体损耗,通过仪表测量的损耗和电容器实际使用发热情况有所差异,给电容器研究、应用带来了困扰。本文通过试验获知在不同频率电流下电容器温升的表现,并与仪表测量的等效串联电阻、计算的有功功率进行比较,找到了两者之间的异同点,供类似电容器的研究设计参考。
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