检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]广东成德电子科技股份有限公司
出 处:《印制电路资讯》2020年第4期114-117,共4页Printed Circuit Board Information
摘 要:本文简要地介绍了“ART+CCODeV”光学分析软件在PCB、FPC曝光中应用及实操过程,这些功能对PCB、FPC曝光成像分析、优化和评估尤为重要,它减少了工程师们在PCB、FPC曝光成像分析、优化和评估中那些繁缛的细节,使得分析、优化和评估变得轻松起来。
关 键 词:ART+CCODeV光学分析软件 曝光能量分布 照度分布 吸光强度 平行度 鬼影
分 类 号:TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]
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