浅谈B4封装三极管寿命试验台的设计  

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作  者:孙佳良 

机构地区:[1]中国振华集团永光电子有限公司,贵州贵阳550018

出  处:《科学技术创新》2020年第24期55-56,共2页Scientific and Technological Innovation

摘  要:针对B4型封装三极管工作寿命试验原理,并设计相应设备模拟其工作寿命试验进行简析。

关 键 词:B4型封装 三极管 寿命试验 工作原理 

分 类 号:TQ320.66[化学工程—合成树脂塑料工业]

 

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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相关期刊文献:

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